ITO膜膜厚儀特定應(yīng)用的準(zhǔn)確度?
二氧化硅膜厚儀的測(cè)量原理是?
二氧化硅膜厚儀的測(cè)量原理主要基于光的干涉現(xiàn)象。當(dāng)單色光垂直照射到二氧化硅膜層表面時(shí),光會(huì)在膜層表面和膜層與基底的界面處發(fā)生反射。這兩束反射光在返回的過(guò)程中會(huì)發(fā)生干涉,即相互疊加,產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋.. 全文
誰(shuí)能幫助我!該與植物NDVI測(cè)量?jī)x器廠家怎么合作呢?
選擇植物NDVI測(cè)量?jī)x器廠家的話,可以盡量選擇有歷史的廠家。購(gòu)買檢測(cè)儀就有很好的保障,可以買的放心,用的安心。實(shí)現(xiàn)真正的物有所值。 全文
光致發(fā)光熒光量子檢測(cè)系統(tǒng)的工作原理
光致發(fā)光熒光量子檢測(cè)系統(tǒng)是一種利用特定光源激發(fā)樣品,使其產(chǎn)生熒光發(fā)射的科學(xué)儀器。工作原理如下:首先,系統(tǒng)通過(guò)光源(如激光或高強(qiáng)度可見(jiàn)光)照射待測(cè)樣品,激發(fā)樣品內(nèi)的分子或原子躍遷到高能態(tài)。當(dāng)這些物質(zhì)從高.. 全文
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