硅片反射率儀工作原理
硅片反射率儀是一種用于測量硅片表面反射特性的精密光學(xué)儀器，其工作原理基于光波與物質(zhì)相互作用的光學(xué)特性分析。該設(shè)備主要應(yīng)用于半導(dǎo)體制造工藝中，通過監(jiān)測硅片表面反射率變化來評估薄膜厚度、表面粗糙度及氧化層.. 全文
透光率測量儀廠家要怎么進行合作呢？哪位大神能告訴我？
可以從服務(wù)質(zhì)量方面選擇透光率測量儀廠家。選擇服務(wù)質(zhì)量好的廠家，一旦出現(xiàn)故障，可及時修復(fù)，不影響企業(yè)生產(chǎn)。 全文
光學(xué)干涉測厚儀能測量的厚度是多少？
光學(xué)干涉測厚儀是一種利用光學(xué)干涉原理進行薄膜材料厚度測量的高精度儀器。其測量范圍因具體型號和規(guī)格的不同而有所差異。一般來說，光學(xué)干涉測厚儀的測量范圍可以從納米級別到微米級別，甚至更大。例如，有些設(shè)備能.. 全文
LPKF TMG3透光率檢測儀產(chǎn)品介紹
LPKFTMG3透光率檢測儀是一款精密的光學(xué)測量儀器，適用于塑料行業(yè)中的注塑工藝。該產(chǎn)品采用激光技術(shù)，可以在幾秒鐘內(nèi)準確測量塑料制品的透光率，從而判斷制品的質(zhì)量是否符合工藝設(shè)定要求。該產(chǎn)品已經(jīng)過校準并.. 全文
