聚合物膜厚測試儀是使用哪種測量原理?
聚合物膜厚測試儀主要使用光學(xué)干涉原理進行測量。當(dāng)一束光照射到聚合物薄膜表面時,部分光會被薄膜表面反射,而另一部分光則會穿透薄膜并在其內(nèi)部或底層界面上再次反射。這兩束反射光在相遇時會發(fā)生干涉現(xiàn)象,形成特.. 全文
該怎么與透過率測試儀廠家合作?大家可以說一下嗎?
在選擇透過率測試儀廠家的時候可以從費用方面考慮。費用也需要注意,有的廠家可能會覺得價格過高的會很好,其實也不見得,當(dāng)然價格太低的也不可靠,可以用適當(dāng)?shù)膬r格購買合適的產(chǎn)品,這就需要多比較幾個廠家的,然后.. 全文
OLED膜厚測量儀支持的厚度范圍?
光刻膠膜厚儀的原理是什么?
光刻膠膜厚儀的原理主要基于光學(xué)干涉現(xiàn)象。當(dāng)光源發(fā)出特定波長的光波垂直或傾斜照射到光刻膠表面時,部分光波會被反射,部分則會透射進入光刻膠內(nèi)部。在光刻膠的上下表面之間,光波會發(fā)生多次反射和透射,形成干涉現(xiàn).. 全文