LPKF TMG3透光率檢測(cè)儀矯正方法

LPKFTMG3透光率檢測(cè)儀采用光譜儀技術(shù)，具有高精度、高分辨率等優(yōu)點(diǎn)。使用該檢測(cè)儀進(jìn)行透光率檢測(cè)前，需要對(duì)設(shè)備進(jìn)行矯正。矯正方法包括波長(zhǎng)矯正、透過率矯正和暗電流矯正。其中，波長(zhǎng)矯正確保檢測(cè)儀在不同波長(zhǎng)下都能準(zhǔn)確測(cè)量透光率；透過率矯正對(duì)設(shè)備進(jìn)行透過率校準(zhǔn)，消除透鏡和光學(xué)元件的折射和散射等影響；暗電流矯正則用于消除檢測(cè)儀的暗電流，提高測(cè)量精度。在矯正過程中，需注意使用標(biāo)準(zhǔn)白板和黑體，以確保矯正精度。此外，矯正后還需對(duì)矯正結(jié)果進(jìn)行驗(yàn)證，以確保設(shè)備滿足檢測(cè)要求。